Pesquisa sobre: MICROSCOPIA DE SIMS 
Descritores Encontrados: 1
Mostrando: 1 .. 1  

 1 / 1 DeCS     
Descritor Inglês:   Spectrometry, Mass, Secondary Ion 
Descritor Espanhol:   Espectrometría de Masa de Ion Secundario 
Descritor Português:   Espectrometria de Massa de Íon Secundário 
Sinônimos Português:   Espectroscopia de Massa de Íon Secundário
Microscopia com Espectrometria de Massa de Íon Secundário
Microscopia de SIMS  
Categoria:   E05.196.566.760
Definição Português:  
Técnica espectrométrica de massa que é usada para análise química microscópica. Um feixe de íons primários com uma energia de 5-20 quiloeletrovolts (keV) bombardeia um pequeno ponto na superfície da amostra em condições ultra altas de vácuo. Os íons secundários, positivos e negativos, expelidos da superfície são analisados em um espectrômetro de massa em consideração a sua proporção de massa e carga. A imagem digital pode ser gerada dos feixes dos íons secundários e sua intensidade pode ser medida. As imagens iônicas podem ser correlacionadas com as imagens da microscopia de luz ou outra fornecendo ferramentas úteis para o estudo dos efeitos moleculares e drogas. 
Nota de Indexação Português:   para microscopia de SIMS, coordene com tipo de microscopia
Qualificadores Permitidos Português:  
CL classificação EC economia
SN estatística & dados numéricos HI história
IS instrumentação MT métodos
ST normas TD tendências
UT utilização VE veterinária
ES ética  
Número do Registro:   32021 
Identificador Único:   D018629 

Ocorrência na BVS:
 

Similar:

 
DeCS CID-10 SciELO LILACS LIS